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M-3型手持式四探針測試儀簡介

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品牌: 蘇州晶格
型號: M-3型手持式四探針測試儀簡介
規格: M-3型手持式四探針測試儀簡介
單價: 面議
起訂: 1 套
供貨總量: 100 套
發貨期限: 自買家付款之日起 3 天內發貨
所在地: 江蘇
有效期至: 長期有效
最后更新: 2013-05-03 14:24
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產品詳細說明

M-3型手持式四探針測試儀簡介

 概述

M-3型手持式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準。

儀器成套組成:由M-3主機、選配的四探針探頭等二部分組成,也可加配測試臺。

儀器所有參數設定、功能轉換全部采用輕觸按鍵輸入;具有零位、滿度自校功能;手動/自動轉換量程可選;測試結果由數字表頭直接顯示。本測試儀采用可充電電池供電,適合手持式變動場合操作使用!

探頭選配:根據不同材料特性需要,探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭,以測試硅類半導體、金屬、導電塑料類等硬質材料的電阻率/方阻;也有球形鍍金銅合金探針探頭,可測柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜(ITO膜)或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具,還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻進行測量。配專用探頭,也可測試電池極片等箔上涂層電阻率方阻。

詳見《不同半導體材料電阻率/方阻測試的四探針探頭和測試臺選配方法》

儀器具有測量精度高、靈敏度高、穩定性好、智能化程度高、結構緊湊、使用簡便等特點。

儀器適用于半導體材料廠、器件廠、科研單位、高等院校對導體、半導體、類半導體材料的手持式導電性能的測試。

基本技術參數

1. 測量范圍、分辨率

    阻:     0.010 ~ 99.99kΩ,     分辨率0.001 ~ 10 Ω

電 阻 率:     0.010~ 20.00kΩ-cm, 分辨率0.001 ~ 10 Ω-cm

方塊電阻:     0.050~ 20.00kΩ/□   分辨率0.001 ~ 10 Ω/□

2. 可測材料尺寸

手持方式不限材料尺寸,但加配測試臺則由選配測試臺決定如下:

    徑:SZT-A圓測試臺直接測試方式 Φ15~130mm。

SZT-C方測試臺直接測試方式180mm×180mm。

(高)度:測試臺直接測試方式 H≤100mm。.

測量方位: 軸向、徑向均可.

3. 量程劃分及誤差等級

量程(Ω-cm/□)

9.999

99.99

999.9

9.999k

99.99k

電阻測試范圍

0.0109.999

9.9999.99

99.99999.9

0.99999.999k

9.99999.99k

電阻率/方阻

0.010/0.0509.999

9.9999.99

99.99999.9

0.99999.999k

9.99920.00k

基本誤差

±1%FSB±2LSB

±2%FSB±2LSB

4) 適配器工作電源:220V±10%, f=50Hz±4%,PW≤5W,或電池供電

5) 外形尺寸:W×H×L=10cm×3.6cm×21cm

   重:≤0.3kg

 
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