基本組成：測(cè)試臺(tái)測(cè)試電極組、升降臺(tái)、支架、連接線纜等部件組成。

配套與兼容：本測(cè)試臺(tái)兼容本公司所有臺(tái)式四探針測(cè)試儀器。本測(cè)試臺(tái)可兼容國內(nèi)同行絕大多數(shù)四探針電阻率/方阻測(cè)試儀器。

優(yōu)勢(shì)特征：SZT-H1質(zhì)量電阻率測(cè)試臺(tái)符合國標(biāo)《GB/T 5230-1995》中對(duì)金屬箔類質(zhì)量電阻率測(cè)試要求，測(cè)試電極采用銅質(zhì)刀架制成，故定位準(zhǔn)確、游移率小、接觸良好；測(cè)試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。儀器具有測(cè)量精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、智能化程度高、結(jié)構(gòu)緊湊、測(cè)量簡便等特點(diǎn)。

儀器適用于金屬薄膜材料廠、半導(dǎo)體薄膜材料廠、橡塑材料廠、電容器廠、科研單位、高等院校等對(duì)半導(dǎo)體或金屬薄膜材料的方阻、電阻率性能的測(cè)試。特別適用于要求快速測(cè)量中低方阻及要求結(jié)果分選的場(chǎng)合。

二、技術(shù)參數(shù)(配ST2258A型多功能數(shù)字式四探針測(cè)試儀)

2.1 測(cè)量范圍、分辨率（有所配儀器決定）

（1）方阻測(cè)試范圍*（以配SZT-H1測(cè)試臺(tái)為例）

測(cè)量膜寬：1mm≤B≤50mm

基本方阻測(cè)量值： 1.0×10^-6 ～ 1.2×10³ Ω/□， 分辨率：1.0×10^-7 ～ 1.0×10⁰  Ω/□。

具體膜寬w與測(cè)量范圍關(guān)系見圖2-1A。

（2）電阻率測(cè)試范圍（以配SZT-H1測(cè)試臺(tái)為例）

（厚度d<10mm,寬w<50mm）

基本電阻率測(cè)量值： 1.0×10^-6 ～ 1.2×10³ Ω*cm， 分辨率：1.0×10^-7 ～ 1.0×10⁰  Ω*cm。

具體截面s與測(cè)量范圍關(guān)系見圖2-1B。

2.2 SZT-H1測(cè)試刀架：

⑴電壓刀片間距：20mm±0.2% ，刀刃長60mm

⑵電流刀片間距： 300mm，刀刃長60mm

⑶測(cè)試臺(tái)架外型尺寸：360×200×240（長×寬×高）